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Thermal-F1"是热发射显微镜的第二代产品
iPHEMOS-DD倒置是一款半导体失效分析系统,通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置
THEMOSmini热发射显微镜是一种功能齐全,小型化的热发射图像分析系统,配有IbHS摄像头
iPHEMOS-MP倒置发射显微镜是一种半导体故障分析系统,旨在通过检测发出的光和热来识别故障位置
PHEMOS-1000是一款高分辨率发射显微镜,通过检测半导体器件缺陷引起的微弱光发射和散热,确定半导体器件中的故障位置
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