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捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

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更新时间：2023-05-27 13:35:24浏览次数：246次

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产品简介

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了的STEM-HAADF...

详细介绍

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了的STEM-HAADF像分辨率（78pm*1、82pm*2）。

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配照明系统球差校正器，且限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了的STEM-HAADF像分辨率（78pm*1、82pm*2）。此外经过球差校正的电子束与一般的场发射透射电镜相比，电流密度可以高出十倍。使用束斑更小、电流密度更大的电子束，能在进行原子水平的元素分析同时,大幅度地缩短测试时间，极大地提高分析效率。

*1 配备冷场发射电子枪 *2 配备肖特基场发射电子枪

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式，通过STEM-ABF像能直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，在样品结构的分析中能够发挥巨大威力

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜配备日本电子制造的100mm²的大面积硅漂移检测器(Silicon Drift Detector:SDD)*3，可以进行快速、高灵敏的EDS元素分析，与经过球差校正的电子束流组合，能进行原子级的元素面分布，在原子水平的分辨率下进行成份分析。

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜的冷场发射电子枪(Cold-FEG)*4配备新开发的真空系统，与传统的冷场发射电子枪不同，Flashing操作后可以马上使用。由于光源小可以获得更高分辨率的图像。此外冷场发射电子枪的能量发散度小，不仅能进行高分辨率的EELS分析，还能降低色差。

捷欧路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜使用成像系统的球差校正器*5，透射电子像(TEM)的分辨率可以高达110pm。

分辨率
扫描透射暗场像	82pm（加速电压200kV、肖特基场发射电子枪） 78pm（加速电压200kV、冷场发射电子枪）
透射像（点分辨率）	190pm（加速电压200kV） 110pm（加速电压200kV、安装TEM球差校正器）
倍率
扫描透射像	X200～X150,000,000
透射像	X50～X2,000,000
电子枪
电子枪	肖特基场发射电子枪冷场发射电子枪（选配件）
加速电压	200～80kV（标准200kV、80kV）
样品系统
样品台	全对中侧插式测角样品台
样品尺寸	3mmΦ
倾斜角	X轴: ±25°　Y轴: ±25°（使用双倾样品杆）
移动范围	X,Y: ±1mm　Z: ±0.1mm（马达驱动／压电驱动）
球差校正器
照明系统球差校正器	标配
成像系统球差校正器	选配件
选配件
主要选配件	能谱仪（EDS）电子能量损失谱仪（EELS） CCD数码相机系统 TEM/STEM断层扫描系统双棱镜