单向拉伸高密度聚乙烯薄膜厚度测定仪 返回列表页

单向拉伸高密度聚乙烯薄膜厚度测定仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

单向拉伸高密度聚乙烯薄膜厚度测定仪执行标准：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技术特征：
测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000 mm
进样速度：0.1～99.9 mm/s
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（W）×357mm（H）
净重：32kg

以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，垂询！