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ITO薄膜厚度测试仪

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厂商性质生产商

所  在  地济南市

更新时间:2018-05-14 09:00:00浏览次数:606次

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Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极zui常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。

 

Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

 

ITO薄膜厚度测试仪技术特征:

测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)

分辨率:0.1μm

测量速度:10 次/min (可调)

测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)

      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

进样步距:0~1000 mm

进样速度:0.1~99.9 mm/s

 

以上【ITO薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,垂询!

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